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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)，主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目
前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放
回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)
際釋放的能量密度，無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。
詳情介紹：
電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)
Huace-DCS10KV電介質(zhì)充放電測(cè)試系統(tǒng)主要用于研究介電儲(chǔ)能材料高電壓放電性能。目
前常規(guī)的方法是通過電滯回線計(jì)算高壓下電介質(zhì)的能量密度，測(cè)試時(shí)，樣品的電荷是放
回到高壓源上，而不是釋放到負(fù)載上，通過電滯回線測(cè)得的儲(chǔ)能密度一般會(huì)大于樣品實(shí)
際釋放的能量密度，無法正確評(píng)估電介質(zhì)材料的正常放電性能。華測(cè)Huace-DCS10KV儲(chǔ)
能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用**設(shè)計(jì)的電容放電電路來測(cè)量，測(cè)試電路如下圖所示。在該
電路中，首先將介電膜充電到給定電壓，之后通過閉合高速M(fèi)OS高壓開關(guān)，存儲(chǔ)在電容
器膜中的能量被放電到電阻器負(fù)載的原理設(shè)計(jì)開發(fā)，更符合電介質(zhì)充放電原理。
