華測(cè)新產(chǎn)品鋰離子電池隔膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

該儀器是根據(jù)GB/T 13542-92、IEC 60674-2:1988 電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙稀薄膜等絕緣材料在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)數(shù)。采用計(jì)算機(jī)控制，通過(guò)人機(jī)對(duì)話(huà)方式可對(duì)試驗(yàn)過(guò)程中的各種數(shù)據(jù)進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的采集、處理，并可存取、顯示、打印

產(chǎn)品用途：

據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜成量的重要指標(biāo)。電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無(wú)須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生過(guò)程中極易引起縱向劃傷，該儀器首ci引用“電 弱線(xiàn)”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到的試樣漏電 流均超過(guò)1mA時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過(guò) 程中存在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線(xiàn)”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱點(diǎn)數(shù)與電弱線(xiàn)數(shù)之和，這 樣的測(cè)試數(shù)據(jù)史能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)顯水平， 且有助于分析生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而有針對(duì)地提出解決問(wèn)題的方案。

工作原理：

  本測(cè)試儀試驗(yàn)電壓是0－20kV交直流電壓，其波動(dòng)為±1%。測(cè)試儀在試樣弱點(diǎn)擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來(lái)設(shè)定的電壓。銅輥為下電極，導(dǎo)電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動(dòng)。遇弱點(diǎn)時(shí)擊穿，擊穿點(diǎn)自動(dòng)累積計(jì)數(shù)。膜移動(dòng)以平方數(shù)自動(dòng)計(jì)數(shù)。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 13542-2009《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》

IEC 60674-2:1988《電氣用塑料薄膜標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置》

JB 3282《固體絕緣材料相對(duì)耐表面放電擊穿性能試驗(yàn)方法》

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華測(cè)儀器  品質(zhì)之選

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